Chroma 6210-100開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于AC/DC Power Supply及 DC/DC Converter之測(cè)試應(yīng)用,41項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能擴(kuò)充性強(qiáng),可輕易整合其它具標(biāo)準(zhǔn)化接口之測(cè)試儀器,測(cè)試速度快且效率高,較傳統(tǒng)ATS速度快約3-4倍,開放式系統(tǒng)平臺(tái),使用者可依需求自行編輯測(cè)試步驟,標(biāo)準(zhǔn)化儀控接口語言及簡(jiǎn)單易學(xué)圖形化操作環(huán)境(Windows 98/NT/2000)以上提供報(bào)表設(shè)計(jì)、統(tǒng)計(jì)分析能力,由于開關(guān)電源應(yīng)用廣、性能要求嚴(yán)格,尤其對(duì)于時(shí)序、動(dòng)態(tài)及瞬時(shí)反應(yīng)的測(cè)試上,一般傳統(tǒng)ATE已經(jīng)無法充份符合現(xiàn)代的需求,Chroma 6210-100開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),就是針對(duì)傳統(tǒng)ATE的缺陷及各種開關(guān)電源實(shí)際應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),符合研發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)檢測(cè)、質(zhì)量控制等之應(yīng)用。本產(chǎn)品整合了各項(xiàng) Chroma自行開發(fā)的先進(jìn)儀器,如開關(guān)電源分析儀、擴(kuò)充測(cè)試單元及交直流電源供應(yīng)器,輔以窗口式系統(tǒng)整合控制軟件,成為效率高、穩(wěn)定性強(qiáng)及高精確度之自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),而其主要特性如下:
效率高
· 采用同步平行之測(cè)試架構(gòu)較一般傳統(tǒng)ATS速度快約3-4倍
· 對(duì)各組輸出做同步平行測(cè)試,比一般傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)快約3倍
· 一般標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程序,包含DC Voltage,OVP, OCP等25項(xiàng) </
系統(tǒng)穩(wěn)定度高
Chroma自行研發(fā)之交流電源供應(yīng)器,Stabilit和Reliability極佳,Load Regulation小于0.02%電子負(fù)載由Mosfet構(gòu)成,各種參數(shù)和電流大小、Slew Rate、周期、起動(dòng)點(diǎn)等全部可由使用者根據(jù)實(shí)際應(yīng)用條件來設(shè)定。
系統(tǒng)測(cè)試由各組開關(guān)電源分析儀和擴(kuò)充量測(cè)單元對(duì)各組輸出做同步測(cè)試,結(jié)果非常穩(wěn)定。 </
準(zhǔn)確度高
可以完全根據(jù)S M P S 應(yīng)用特性而仿真電流負(fù)載變化的真正狀態(tài),確保測(cè)試結(jié)果的可信度。
百分之百模擬各種輸入狀態(tài),如開機(jī)角度控制、輸入電源干擾之各種現(xiàn)象,提供最正確之測(cè)試狀況。
DC電壓,使用14 Bit ADC,測(cè)到小數(shù)點(diǎn)第三位,準(zhǔn)確度0.02%+0.02%F.S.。
NOISE電壓、Differential Mode輸入,并有8段Low Pass Filter供選擇使用,分辨率達(dá)1% + 1%F.S.。
時(shí)間 : 使用24 Bit Counter,分辨率1uS,準(zhǔn)確度10μs。 </
擴(kuò)充性強(qiáng) UL type=disc>
AC/DC,DC/DC可由同一測(cè)試程序完成,硬件不須更動(dòng),Modular系統(tǒng)架構(gòu),具最靈活的擴(kuò)充性。
輸出電壓可測(cè)到200V,負(fù)載電流可并聯(lián)擴(kuò)充,動(dòng)態(tài)負(fù)載達(dá)125kHz等。
系統(tǒng)可測(cè)到12組輸出。
系統(tǒng)軟件可擴(kuò)充至AC/AC,DC/DC等各種SPS的測(cè)試。
透過Built-in的6組Relay和16Bit的TTL控制信號(hào)可與其它儀器設(shè)備連線作業(yè)。
透過10組Ext Measurement,可測(cè)至PCB內(nèi)的AC和DC電壓仿真In-Circuit Test。 </
統(tǒng)計(jì)分析能力 UL type=disc>
測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)分析能力,并產(chǎn)生分析圖表,以實(shí)時(shí)提供制程偏差警告。
系統(tǒng)程序人性化,操作簡(jiǎn)單易學(xué)。
組立式系統(tǒng),維修容易。
伴隨著信息、通信產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展,促使制造商以推動(dòng)生產(chǎn)線自動(dòng)化大量生產(chǎn),以降低生產(chǎn)成本,以厚實(shí)其競(jìng)爭(zhēng)力來因應(yīng)開關(guān)電源的需求量大幅成長(zhǎng)。Chroma 6000憑借其優(yōu)異性能及測(cè)試速度快的優(yōu)點(diǎn),協(xié)助制造業(yè)者達(dá)成競(jìng)爭(zhēng)力的目標(biāo)。
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型號(hào) |
輸出電壓 |
輸出功率 |
輸出電流 |
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6210-100 |
100V |
1000W |
10A |
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6210-60 |
60V |
1000W |
18A |
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6210-40 |
40V |
1000W |
25A |
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6210-20 |
20V |
1000W |
50A |
綜合測(cè)試項(xiàng)目
1. 直流輸出電壓測(cè)試
2. 峰對(duì)峰值噪聲測(cè)試
3. 有效值噪聲測(cè)試
4. 動(dòng)態(tài)反應(yīng)(最大范圍125kHz)
5. 輸入穩(wěn)定度測(cè)試
6. 負(fù)載穩(wěn)定度測(cè)試
7. 交越穩(wěn)定度測(cè)試
8. 總合穩(wěn)定度測(cè)試
9. 總合穩(wěn)定度測(cè)試
10. 開機(jī)時(shí)間
11. 上升時(shí)間
12. 下降時(shí)間
13. 關(guān)機(jī)時(shí)間
14. 輸出穩(wěn)定時(shí)間測(cè)試
15. 過沖電壓測(cè)試
16. 電源備妥信號(hào)(Power good)
17. 電源失效信號(hào)(Power fail)
18. 輸出上升波形(Power up)
19. 輸出下降波形(Power down)
20. 額外量測(cè)測(cè)試
21. 過載保護(hù)點(diǎn)測(cè)試
22. 過載反應(yīng)時(shí)間測(cè)試
23. 過載恢復(fù)時(shí)間
24. 短路峰值電流測(cè)試
25. 短路有效值電流測(cè)試
26. 過電壓保護(hù)測(cè)試/低電壓保護(hù)測(cè)試
27. 過功率保護(hù)測(cè)試
28. 擴(kuò)充電壓測(cè)試
29. 輸出調(diào)整測(cè)試
30. 輸入沖擊電流測(cè)試
31. 輸入有效值電流測(cè)試
32. 輸入峰值電流測(cè)試
33. 輸入功率測(cè)試
34. 輸入功率因素測(cè)試
35. 效率測(cè)試
36. 輸入電壓緩升
37. 輸入頻率緩升/降測(cè)試
38. 輸入斷電測(cè)試
39. 輸入干擾模擬測(cè)試
40. 外部負(fù)載波形仿真測(cè)試
41. 外部動(dòng)態(tài)測(cè)試